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    三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用

    發(fā)布時間: 2021-11-30  點(diǎn)擊次數(shù): 3534次

    三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用

    三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用由深圳市福池電子科技有限公司*銷售三菱化學(xué)四探針粉體電阻率測試儀MCP-PD51的介紹使用,三菱化學(xué)四探針儀測試方法,傳感器MCP-T700精確。

    用于研究開發(fā)、質(zhì)量管理第一線,執(zhí)行粉體之物性管理

    與阻抗率計Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接,以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗

    樣品的交換、清掃簡單、可采一觸式著離探頭

    各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積

    測定及數(shù)據(jù)、備有達(dá)執(zhí)行圖形化之軟件以供選購

    原理:

    通過使用粉專用探針,可以在任意壓力下測量導(dǎo)~絕緣的電阻率。 不是模擬一個粒子,而是模擬加壓成形的粒子的集合狀態(tài),起因于填充特性

    可以求出乘積電阻率。

     

     image.png

     

    測定對象:

    碳基粉末…二次電池電極材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纖維/納米碳等

    金屬粉…電池電極材料/銅粉等薄膜材料/導(dǎo)電性漿料等電路基板材料/導(dǎo)電性涂料/壓粉原料等

    調(diào)色劑/樹脂/食品用粉類/陶瓷/粉涂料等絕緣性粉粉末粉體

     

    電阻值:

    低電阻10-3Ω~107Ω高電阻103Ω~1013Ω

     

    測量方法:

    低電阻四探針方式(電極間隔3mm )高電阻雙環(huán)法


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