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    改進(jìn)型全自動(dòng)粉末粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)eLiPMS-2000plus

    發(fā)布時(shí)間: 2021-08-30  點(diǎn)擊次數(shù): 2278次

    改進(jìn)型粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)eLiPMS-2000plus 配三菱化學(xué)MCP-T700

    多用途:粉末電阻率、密度及成型片狀材料測(cè)試

    系統(tǒng)搭配三菱化學(xué)高精度四探針儀(MCP-T700),提高測(cè)試精確度及測(cè)試效率

    image.png

    特點(diǎn):

    1)內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測(cè)力傳感器單元,最大施加壓力 30KN,約 95MPa; 在最大壓力范圍內(nèi)可設(shè)置任意壓力點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試分析。一鍵啟動(dòng),自動(dòng)進(jìn)行加壓、測(cè)試、釋放。

    2)簡(jiǎn)易操作軟件界面,可設(shè)置不同壓力點(diǎn)及保壓時(shí)間(保壓時(shí)間到再測(cè)試),自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末之電阻、電阻率、電導(dǎo)率、厚度、壓強(qiáng)、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。

    3)系統(tǒng)通過(guò)與三菱化學(xué) LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探針儀連接,可測(cè)試寬范圍之粉體阻抗特征。

    電阻測(cè)試范圍:0.001*10-4~9.999*107Ω;

    電阻率=Ω*RCF*t(RCF 為糾正因子,t 為厚度單位 cm)

    4)*的探針單元,高精度四探針測(cè)試原理,消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。

    也可以裁剪φ20mm 的正負(fù)電極片樣品來(lái)測(cè)試電池極片在不同壓力下的電阻變化;

    或者單獨(dú)使用 MCP-T700 及其標(biāo)配探頭或選配探頭來(lái)測(cè)試片材,所謂多用途。

    測(cè)試領(lǐng)域:

    碳粉、金屬粉末、其他粉末

    系統(tǒng)構(gòu)成:

    自動(dòng)粉末加壓測(cè)試機(jī)主體

    電阻率計(jì):三菱化學(xué)MCP-T700

    測(cè)試軟件

    辦公電腦

    使用:

    四點(diǎn)探針測(cè)試原理,僅需將四探針探頭按壓在樣品表面即可測(cè)試。

    可提供售后服務(wù) 現(xiàn)場(chǎng)安裝

     

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